透射电子显微镜
-
43/人使用者
-
107/次总次数
-
230/小时总时长
-
12/人收藏者
-
收费标准
机时校内120元/小时，校外600元/小时 -
设备型号
JE0L-JEM F200 -
当前状态
-
管理员
郭金键,管理员 -
放置地点
北校区2号教学楼B110
- 仪器信息
- 预约资源
- 附件下载
- 公告
- 同类仪器
名称
透射电子显微镜
资产编号
JEM F200
型号
JE0L-JEM F200
规格
产地
日本
厂家
JEOL
所属品牌
日本电子
出产日期
2023-01-29
购买日期
2022-11-21
所属单位
分析测试中心
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
郭金键
联系电话
联系邮箱
放置地点
北校区2号教学楼B110
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 备注
主要规格&技术指标
TEM 点分辨率：0.23nm@200kV，线分辨率：0.10nm@200kV；
STEM HAADF分辨率：0.15nm@200kV
放大倍率：MAG模式2000-2M倍
Low MAG模式：50-6000倍
STEM模式：100-150M倍
STEM HAADF分辨率：0.15nm@200kV
放大倍率：MAG模式2000-2M倍
Low MAG模式：50-6000倍
STEM模式：100-150M倍
主要功能及特色
TEM/STEM成像/选区电子衍射/EDS能谱点线面扫分析
样本检测注意事项
禁止送检磁性粉末，样品须无放射性、毒性和腐蚀性；样品须经充分干燥，并确保受电子束照射时不产生挥发性、腐蚀性物质。
备注
应用于材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体、纳米技术等领域的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析；各种材料微区化学成分的定性和半定量检测；粉末、纳米颗粒形态和粒度测定以及复合材料界面特性的研究。
预约资源
附件下载
公告
同类仪器
