原子力显微镜（AFM）
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20/次机时次数
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50/小时总时长
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收费标准
机时0元/小时 -
设备型号
Dimension Icon -
当前状态
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管理员
张伟 16635717521 -
放置地点
北校区2号教学楼B区B218
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
- 同类仪器
名称
原子力显微镜（AFM）
资产编号
123
型号
Dimension Icon
规格
产地
美国
厂家
美国Bruker
所属品牌
Bruker
出产日期
购买日期
2026-04-10
所属单位
分析测试中心
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
张伟
联系电话
16635717521
联系邮箱
放置地点
北校区2号教学楼B区B218
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
①基础成像：设备系统噪音常规下低于0.03 nm，Z方向分辨率低于0.1 nm; XY方向分辨率最低可达1 nm，扫描范围最高可达85μm；可在空气中实现高分辨成像，获得样品表面三维形貌信息；②电学高级应用：可用于静电电荷分布、磁学性能、表面电势（功函数）、压电性能（压电畴、电滞回线、压电系数等）等材料电学性能的测试表征。③力学高级应用：可通过力曲线模式，实现对单点、多点的进行力学分析，获得模量、粘附力等信息。④具有极高的Z方向空间分辨率；强大的应用拓展性，可实现电学、力学多方面的高级应用；一次扫描即可获得多种信息。
主要功能及特色
(1)表面形貌与结构表征：获取样品表面三维形貌、粗糙度、颗粒尺寸、薄膜厚度、台阶高度等纳米形貌的定量分析。【基础形貌成像：接触模式（Contact Mode）、轻敲模式（Tapping Mode）、峰值力轻敲模式（Peakforce Tapping Mode）】
(2)纳米力学性能表征：力曲线模式、横向力成像（LFM）。
(3)纳米电学与机电性能表征：静电力显微镜（EFM）、磁力显微镜（MFM）、开尔文探针力显微镜（KPFM）、压电力显微镜（PFM）
(4)支持液相环境下原位动态成像。
(2)纳米力学性能表征：力曲线模式、横向力成像（LFM）。
(3)纳米电学与机电性能表征：静电力显微镜（EFM）、磁力显微镜（MFM）、开尔文探针力显微镜（KPFM）、压电力显微镜（PFM）
(4)支持液相环境下原位动态成像。
样本检测注意事项
送样要求：
(1)样品状态：可为薄膜、纳米级粉末及块体样品（要求样品表面相对平滑）；
(2)粉末样品：常规测试项目样品起伏不超过1 μm；
(3)对于不导电的样品，如塑料，聚合材料，高分子材料之类，建议使用吸附胶盒、离心管等装样，请不要直接用自封袋装，如需使用自封袋请将样品与包装固定牢固，避免运输过程中摩擦产生静电，导致样品难测或无法测试；
(4)薄膜或块状样品尺寸要求：长宽5-20 mm之间，厚度1-8 mm之间，表面粗糙度不超过800 nm，一定要标明测试面！
(5)测试PFM、KPFM的材料需要将样品制备在导电基底上，基底大小符合块状样品的尺寸要求，KPFM的样品需要导电或半导体；
(6) PFM、KPFM测试需要样品表面十分平整，样品粗糙度最好在10-200 nm之间。
(7) 样品需要牢固地粘附在平整的衬底上面（建议用云母片，玻璃片，硅片），衬底尺寸如小于5mm需要将衬底粘附到仪器专用的铁片上，如大于30mm则可以直接测试。
(1)样品状态：可为薄膜、纳米级粉末及块体样品（要求样品表面相对平滑）；
(2)粉末样品：常规测试项目样品起伏不超过1 μm；
(3)对于不导电的样品，如塑料，聚合材料，高分子材料之类，建议使用吸附胶盒、离心管等装样，请不要直接用自封袋装，如需使用自封袋请将样品与包装固定牢固，避免运输过程中摩擦产生静电，导致样品难测或无法测试；
(4)薄膜或块状样品尺寸要求：长宽5-20 mm之间，厚度1-8 mm之间，表面粗糙度不超过800 nm，一定要标明测试面！
(5)测试PFM、KPFM的材料需要将样品制备在导电基底上，基底大小符合块状样品的尺寸要求，KPFM的样品需要导电或半导体；
(6) PFM、KPFM测试需要样品表面十分平整，样品粗糙度最好在10-200 nm之间。
(7) 样品需要牢固地粘附在平整的衬底上面（建议用云母片，玻璃片，硅片），衬底尺寸如小于5mm需要将衬底粘附到仪器专用的铁片上，如大于30mm则可以直接测试。
设备使用相关说明
试运行期间测试不收费，但需自带探针进行相关测试。
备注
送样要求：
(1)样品状态：可为薄膜、纳米级粉末及块体样品（要求样品表面相对平滑）；
(2)粉末样品：常规测试项目样品起伏不超过1 μm；
(3)对于不导电的样品，如塑料，聚合材料，高分子材料之类，建议使用吸附胶盒、离心管等装样，请不要直接用自封袋装，如需使用自封袋请将样品与包装固定牢固，避免运输过程中摩擦产生静电，导致样品难测或无法测试；
(4)薄膜或块状样品尺寸要求：长宽5-20 mm之间，厚度1-8 mm之间，表面粗糙度不超过800 nm，一定要标明测试面！
(5)测试PFM、KPFM的材料需要将样品制备在导电基底上，基底大小符合块状样品的尺寸要求，KPFM的样品需要导电或半导体；
(6) PFM、KPFM测试需要样品表面十分平整，样品粗糙度最好在10-200 nm之间。
(1)样品状态：可为薄膜、纳米级粉末及块体样品（要求样品表面相对平滑）；
(2)粉末样品：常规测试项目样品起伏不超过1 μm；
(3)对于不导电的样品，如塑料，聚合材料，高分子材料之类，建议使用吸附胶盒、离心管等装样，请不要直接用自封袋装，如需使用自封袋请将样品与包装固定牢固，避免运输过程中摩擦产生静电，导致样品难测或无法测试；
(4)薄膜或块状样品尺寸要求：长宽5-20 mm之间，厚度1-8 mm之间，表面粗糙度不超过800 nm，一定要标明测试面！
(5)测试PFM、KPFM的材料需要将样品制备在导电基底上，基底大小符合块状样品的尺寸要求，KPFM的样品需要导电或半导体；
(6) PFM、KPFM测试需要样品表面十分平整，样品粗糙度最好在10-200 nm之间。
预约资源
检测项目
附件下载
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