X射线光电子能谱仪
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收费标准
机时按检测项目计费 -
设备型号
K-alpha+ -
当前状态
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管理员
郝爱琴,姚如心 -
放置地点
北校区2号教学楼B108
- 仪器信息
- 附件下载
- 公告
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名称
X射线光电子能谱仪
资产编号
TY2018004675
型号
K-alpha+
规格
产地
美国
厂家
ThermoFisher Scientific
所属品牌
出产日期
购买日期
2018-06-18
所属单位
分析测试中心
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
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联系电话
联系邮箱
放置地点
北校区2号教学楼B108
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
主要规格&技术指标
1.在束斑大小为400μm且光源功率小于72 W的实验条件下，当Ag 3d5/2峰的半高宽≤1.0 eV时，计数率＞4000,000 cps；小于72 W的功率即可得到满足指标的灵敏度；
2.能量分辨率≤0.5 eV（对Ag 3d5/2峰的半高宽，干净的银标样）；
3.通过能为1-400 eV，连续可调，能量范围100-4000 eV；
4.束斑直径从30μm到400μm聚焦连续可调，步长不超过5μm；
5.真空指标4.0×10-9mBar
2.能量分辨率≤0.5 eV（对Ag 3d5/2峰的半高宽，干净的银标样）；
3.通过能为1-400 eV，连续可调，能量范围100-4000 eV；
4.束斑直径从30μm到400μm聚焦连续可调，步长不超过5μm；
5.真空指标4.0×10-9mBar
主要功能及特色
1.主要获得样品表面10 nm以内的成分信息；
2.全谱扫描：表面纳米级内元素成分表征（除H,He以外的元素）；
3.窄谱（精细谱）扫描：每种元素存在的化学态信息表征；
4.半定量分析：元素及化学态的百分含量（检出限：原子百分比0.1%）；
5.深度剖析：不同成分的深度分布信息。
该设备主要对材料表面成分进行分析（包括表面主要成分，添加组分，微量/痕量杂质/掺杂组分等），广泛应用于化学、物理、生物、医学等材料领域。
2.全谱扫描：表面纳米级内元素成分表征（除H,He以外的元素）；
3.窄谱（精细谱）扫描：每种元素存在的化学态信息表征；
4.半定量分析：元素及化学态的百分含量（检出限：原子百分比0.1%）；
5.深度剖析：不同成分的深度分布信息。
该设备主要对材料表面成分进行分析（包括表面主要成分，添加组分，微量/痕量杂质/掺杂组分等），广泛应用于化学、物理、生物、医学等材料领域。
样本检测注意事项
对材料表面10 nm以内进行成分分析，全谱，窄谱，价带谱测试；注意挥发性组分卤素、S、Hg等，不稳定组分不能测试。
附件下载
公告
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